青木裕之
“近接場光学顕微鏡による高分子のナノ構造解析”
高分子論文集, Vol. 66, 312-320 (2009)
【概要】蛍光顕微鏡法はバルク内の単一分子を観察するための最も有力な手法の一つである。近接場光学顕微鏡（Scanning Near-field Optical Microscopy: SNOM）は光をながら回折限界を超える空間分解能でのイメージングを可能にする新しい光学顕微鏡技術であり、これにより高分子鎖一本の形態を直接観察することができるようになった。本論文では、SNOMを用いた単一高分子鎖の実空間観察に基づいた相分離構造内および延伸状態における高分子鎖のコンホメーションの評価について紹介している。